Improvements in or Relating to the Testing of Integrated Circuits,申请号GB19800024411-传众专利搜索

发明名称	Improvements in or Relating to the Testing of Integrated Circuits
摘要
申请公布号	GB2058366(A)	申请公布日期	1981.04.08
申请号	GB19800024411	申请日期	1980.07.25
申请人	POST OFFICE	发明人
分类号	G01R31/30;G01R31/3193;G06F11/277;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/30
代理机构		代理人
主权项
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