发明名称 Process and device for fast deflection of a corpuscular beam.
摘要 Für die schnelle Ablenkung eines Korpuskularstrahls zur lithografischen Erzeugung feiner Strukturen auf einem Target ist ein Ablenksystem bekannt, bei dem eine magnetische und eine elektrostatische Ablenkeinrichtung in Strahlrichtung hintereinanderliegend gekreuzt angeordnet sind. Um den ausseraxialen Farbfehler dieses Ablenksystems zu kompensieren, ist erfindungsgemäss vorgesehen, dass beide Ablenkeinrichtungen mit einer ersten Frequenz f1 derart angesteuert werden, dass die elektrostatische Ablenkung antiparallel und halb so gross wie die magnetische ist. Elektrostatisch wird zusätzlich mit einer höheren Frequenz f2, jedoch mit kleinerer Amplitude, abgelenkt.
申请公布号 EP0025579(A1) 申请公布日期 1981.03.25
申请号 EP19800105370 申请日期 1980.09.08
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 ANGER, KLAUS, DIPL.-ING.;FROSIEN, JURGEN, DIPL.-ING.
分类号 G21K1/087;H01J37/147;H01L21/027;H05H7/00;(IPC1-7):H01J29/70;H04N3/16;H01L21/26 主分类号 G21K1/087
代理机构 代理人
主权项
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