| 发明名称 |
(B1) ;METHOD OF MEASUREMENT OF THERMAL EFFECTS IN THIN FILMS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL217262(A1) |
申请公布日期 |
1981.02.27 |
| 申请号 |
PL19790217262 |
申请日期 |
1979.07.20 |
| 申请人 |
POLITECHNIKA WARSZAWSKA |
发明人 |
PRZYLUSKI JAN;PLOCHARSKI JANUSZ |
| 分类号 |
G01K;G01K13/10;H01L49/02;(IPC1-7):G01K/ |
主分类号 |
G01K |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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