发明名称 METHOD OF INSPECTING METAL MICROSTRUCTURE WITH OPTICAL MEANS
摘要
申请公布号 SU1476342(A1) 申请公布日期 1989.04.30
申请号 SU19864127925 申请日期 1986.10.04
申请人 VATNIK LEONID E,SU;KRISTAL VIKTOR G,SU;RABINOVICH EMMA,SU 发明人 VATNIK LEONID E,SU;KRISTAL VIKTOR G,SU;RABINOVICH EMMA I,SU
分类号 G01N1/32 主分类号 G01N1/32
代理机构 代理人
主权项
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