发明名称 PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORY INTEGRATED CIRCUIT WITH BITCHECK AND DEPROGRAMMING MODES AND METHODS FOR PROGRAMMING AND TESTING SAID CIRCUIT
摘要 Un circuit integre a memoire morte programmable (PROM) est construit avec deux nouveaux modes de fonctionnement: un mode a controle par bits et un mode de deprogrammation. Dans le mode de controle par bits, le reseau de circuit est concu pour determiner la tension de seuil apparente de chaque transistor programmable dans la (PROM). Dans le mode de deprogrammation, le reseau de circuit est concu pour soumettre simultanement tous les transistors programmables dans la (PROM) a une contrainte de deprogrammation. Le mode de controle par bits permet une programmation rapide, et le mode de controle par bits et le mode de deprogrammation sont utilises conjointement comme methode d'essai rapide et complet.
申请公布号 WO8100154(A1) 申请公布日期 1981.01.22
申请号 WO1980US00828 申请日期 1980.07.01
申请人 MOSTEK CORP 发明人 MCKENNEY V;HAMPTON J
分类号 G11C17/00;G11C16/34;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/34;G11C29/50;(IPC1-7):06F11/00;01R31/26 主分类号 G11C17/00
代理机构 代理人
主权项
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