发明名称 |
DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE DE CHAMPS MAGNETIQUES ET ELECTRIQUES |
摘要 |
<P>L'INVENTION CONCERNE LA MESURE DES CHAMPS ELECTRIQUES ET MAGNETIQUES.</P><P>UN DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE DE CHAMPS ELECTRIQUES ET MAGNETIQUES COMPREND UN TRANSDUCTEUR EQUIPE D'UN MODULATEUR OPTIQUE 33. L'UNE AU MOINS DES LIMITES D'ABSORPTION DU SPECTRE D'ABSORPTION DU CORPS FORMANT LE MODULATEUR EST FONCTION DU CHAMP ELECTRIQUE OU MAGNETIQUE APPLIQUE. DES FIBRES OPTIQUES 30, 32, 38 ACHEMINENT LA LUMIERE D'ENTREE ET DE SORTIE DU MODULATEUR.</P><P>APPLICATION AUX INSTRUMENTS DE MESURE ELECTRIQUES.</P>
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申请公布号 |
FR2458080(A1) |
申请公布日期 |
1980.12.26 |
申请号 |
FR19800011808 |
申请日期 |
1980.05.28 |
申请人 |
ASEA AB |
发明人 |
TORGNY BROGARDH ET OLOF ENGSTROM;ENGSTROM OLOF |
分类号 |
G01J3/42;G01R15/24;G01R23/17;G01R29/08;G01R33/032;G02F1/09;G02F1/17;(IPC1-7):G01R33/03;G01R13/40 |
主分类号 |
G01J3/42 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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