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发明名称
METHOD OF TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号
GB2049206(A)
申请公布日期
1980.12.17
申请号
GB19800013609
申请日期
1980.04.24
申请人
PHILIPS NV
发明人
分类号
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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