发明名称 METHOD OF TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 GB2049206(A) 申请公布日期 1980.12.17
申请号 GB19800013609 申请日期 1980.04.24
申请人 PHILIPS NV 发明人
分类号 G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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