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<P>CIRCUIT FORME SUR UNE MICROPLAQUETTE DE MEMOIRE PROGRAMMABLE EFFACABLE POUR MESURER LA TENSION DE SEUIL ET PAR CONSEQUENT LA CAPACITE DE CONSERVATION DES DONNEES DES TRANSISTORS A PORTE FLOTTANTE DE CETTE MEMOIRE.</P><P>LE CIRCUIT COMPORTE UNE BORNE D'ENTREE 50 DESTINEE A RECEVOIR UNE TENSION D'ESSAI A UN NIVEAU SUPERIEUR A LA TENSION DE SEUIL MAXIMALE DES CELLULES 12, 13, 14 DE LA MEMOIRE, UNE BORNE D'ENTREE 56 RACCORDEE A UNE SOURCE DE TENSION EN RAMPE 54 ET UN TRANSISTOR DE COMMANDE 52 RACCORDE AUX BORNES D'ENTREE ET AUX LIGNES 16, 20, 22 DE SIGNAL DE LECTURE DE LA MEMOIRE, AFIN D'APPLIQUER LA TENSION EN RAMPE A UNE CELLULE CHOISIE ET DETERMINER AINSI SA TENSION DE SEUIL.</P><P>APPLICATION AUX MEMOIRES MORTES PROGRAMMABLES EFFACABLES.</P>
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