| 发明名称 |
DOUBLE IDENTICATION IMMUNITY TEST |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS55126856(A) |
申请公布日期 |
1980.10.01 |
| 申请号 |
JP19800034670 |
申请日期 |
1980.03.18 |
| 申请人 |
INT DIAGNOSTIC TECH |
发明人 |
JIYANETSUTO EICHI CHIEN;EDOWAADO TEI MATSUJIO;DEIITORITSUKU REEBINDAA |
| 分类号 |
G01N33/536;A61K39/395;G01N33/48;G01N33/532 |
主分类号 |
G01N33/536 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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