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发明名称 TEST APPARATUS FOR IC
摘要
申请公布号 JPS55119072(A) 申请公布日期 1980.09.12
申请号 JP19790027070 申请日期 1979.03.08
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 TANAKA SADAAKI
分类号 G01R31/28;G01R31/26;G01R31/3183 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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