METHOD OF DETERMINING THERMOELECTRIC EFFICIENCY OF SEMICONDUCTORS,申请号SU19782638586-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF DETERMINING THERMOELECTRIC EFFICIENCY OF SEMICONDUCTORS
摘要
申请公布号	SU761893(A1)	申请公布日期	1980.09.07
申请号	SU19782638586	申请日期	1978.07.06
申请人	LUKISHER EDUARD M,SU;VAJNER ARKADIJ L,SU	发明人	LUKISHER EDUARD M,SU;VAJNER ARKADIJ L,SU
分类号	G01N27/04;(IPC1-7):G01N27/04	主分类号	G01N27/04
代理机构		代理人
主权项
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