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发明名称
COOLED PROBE FOR CONTACT MEASUREMENT IN THE HIGH TEMPERATURE MEDIUMS
摘要
申请公布号
CS200001(B1)
申请公布日期
1980.08.29
申请号
CS19730007476
申请日期
1973.10.31
申请人
NEMEC,BOHUMIL,CS
发明人
NEMEC,BOHUMIL,CS
分类号
G01P5/00;(IPC1-7):G01P5/00
主分类号
G01P5/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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