发明名称 Method for forming electrical connections between conducting layers in semiconductor structures.
摘要 <p>Bei einem Verfahren zur Herstellung von elektrischen Leitverbindungen zwischen zwei Metallebenen einer Halbleiterstruktur wird die erste Metallebene (19) durch eine dünne, leitende Metallschicht (20) bedeckt, deren Material eine geringe Ätzgeschwindigkeit aufweist. Diese Metallschicht wirkt im nachfolgenden Beschichtungsverfahren als Ätzsperre, wodurch das Leitungsmuster der ersten Metallebene (19) geschützt wird. Ober der Metallschicht (20), die als eine Ätzsperre wirkt, wird eine Zwischenmetallschicht aufgetragen, deren Material eine höhere Ätzgeschwindigkeit aufweist als das Material der als Ätzsperre wirkenden Metallschicht. Durch ein Ätzverfahren werden aus dem Material der Zwischenmetallschicht nach einem vorgegebenen Muster erhöhte Bereiche (21') gebildet, welche nach der Herstellung von Isolier- und Metallschichten (28, 20) mit der zweiten Metallebene (30) verbunden werden. Das Verfahren bewirkt eine höhere mechanische Festigkeit und geringere Übergangswiderstände an den Kontaktstellen der Verbindungsleitungen, welche die Metallschichten der beiden Metallebenen verbinden.</p>
申请公布号 EP0013728(A1) 申请公布日期 1980.08.06
申请号 EP19790105056 申请日期 1979.12.10
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 DALAL, HORMAZDYAR MINOCHER;PATNAIK, BISWESWAR;SARKARY, HOMI GUSTADJI
分类号 H01L21/3213;H01L21/768;H01L23/522;H05K3/46;(IPC1-7):01L21/90;01L23/52;05K3/00 主分类号 H01L21/3213
代理机构 代理人
主权项
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