| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ENVIRONMENT OF ELECTRONIC EQUIPMENT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPS55101062(A) |
申请公布日期 |
1980.08.01 |
| 申请号 |
JP19790008217 |
申请日期 |
1979.01.29 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
FUKAWA EIJI;MIURA YUUJI |
| 分类号 |
G01R31/30;G01M99/00;G01N17/00;G01R31/00;G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/30 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
