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经营范围
发明名称
IC TEST DEVICE
摘要
申请公布号
JPS5598376(A)
申请公布日期
1980.07.26
申请号
JP19790006778
申请日期
1979.01.22
申请人
TAKEDA RIKEN IND CO LTD
发明人
KOUYA SHINICHI;SUZUKI KENPEI;SATOU HIROSHI
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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