| 发明名称 |
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY UNIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY UNIT SUITABLE FOR IT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5589996(A) |
申请公布日期 |
1980.07.08 |
| 申请号 |
JP19780159842 |
申请日期 |
1978.12.27 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
TAKAI ATSUSHI;KONDOU RIYUUJI;HAGIWARA TAKAKATSU |
| 分类号 |
G11C11/413;G11C11/34;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/56 |
主分类号 |
G11C11/413 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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