| 发明名称 |
LIFE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5589763(A) |
申请公布日期 |
1980.07.07 |
| 申请号 |
JP19780162543 |
申请日期 |
1978.12.28 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
TAKAGI MIKIO;KAMIOKA HAJIME;MOCHIZUKI SHIYOUJI;YOSHIOKA HIDETOSHI;HAMAGISHI KENJI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01N17/00;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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