发明名称 TESTING SYSTEM OF HIGHLY INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS5582972(A) 申请公布日期 1980.06.23
申请号 JP19780157251 申请日期 1978.12.19
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 NAKAMAE MIDORI
分类号 G01R31/28;G01R31/26;G06F17/50 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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