| 发明名称 |
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND CONTACT JIG FOR TEST |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5572876(A) |
申请公布日期 |
1980.06.02 |
| 申请号 |
JP19780146230 |
申请日期 |
1978.11.27 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
MIDORIKAWA ICHIROU;WATANABE MASATO |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/66;H01L23/32;H01R33/76;H01R33/94 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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