| 发明名称 |
(B1) ;APPARATUS FOR TESTING RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND ELECTRONIC DEVICES AND SUBASSEMBLIES AGAINST ELECTRIC SURGESEHLEMENTOV,KOMPONENTOV I EHLEKTRONNYKH USTROJJSTV E EHLEKTROUDARAM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL207883(A1) |
申请公布日期 |
1980.03.10 |
| 申请号 |
PL19780207883 |
申请日期 |
1978.06.24 |
| 申请人 |
INST TECH ELEKTRONOWEJ |
发明人 |
WISLOWSKI JANUSZ;STOLARSKI EDWARD;CZERWINSKI ANDRZEJ;LEWANDOWSKI ANDRZEJ |
| 分类号 |
G01R;G01R29/02;G01R31/26;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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