发明名称 Method for producing a passivating layer on a silicon semiconductor body.
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstellen einer passivierenden Schutzschicht (5) aus amorphem Silicium. Das amorphe Silicium wird durch Zersetzung einer gasförmigen Silicium-Wasserstoffverbindung durch Glimmentladung aufgebracht. Die Parameter der Glimmentladung werden so eingestellt, daß der spezifische Widerstand zwischen 10<8> und 5 . 10¹¹ Ohm.cm liegt. Die Passivierungsschicht ist für alle aus Silicium bestehenden Halbleiterbauelemente anwendbar.
申请公布号 EP0008406(A1) 申请公布日期 1980.03.05
申请号 EP19790102864 申请日期 1979.08.08
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 DANNHAUSER, FRIEDRICH, DR. DIPL.-ING.;KEMPTER, KARL, DR.RER.NAT., DIPL.-PHYS.;KRAUSSE, JURGEN, DR., DIPL.-PHYS.;SCHNOLLER, MANFRED, DR.RER.NAT., DIPL.-CHEM.
分类号 H01L21/205;H01L21/314;H01L21/56;H01L23/29;(IPC1-7):01L21/56;01L23/28;01L21/205 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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