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发明名称 MEMORY DEVICE TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPS556201(A) 申请公布日期 1980.01.17
申请号 JP19780077366 申请日期 1978.06.28
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 NAKAMURA TOMOHARU
分类号 G01R31/28;G01R31/26;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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