| 发明名称 |
(B2) ;SYSTEM FOR MEASUREMENT OF CURRENT FLOWING IN SEMICONDUCTOR ELEMENTS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
PL211695(A2) |
申请公布日期 |
1980.01.02 |
| 申请号 |
PL19780211695 |
申请日期 |
1978.12.11 |
| 申请人 |
WYZSZA SZKOLA INZYNIERSKA |
发明人 |
TARCZYNSKI WIESLAW |
| 分类号 |
G01R;G01R31/26;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
