发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA DETERMINATION DE CARACTERISTIQUES TECHNOLOGIQUES
摘要 <P>L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la détermination non destructive de l'indice d'anisotropie de bandes de tôle fine laminées à froid et ayant subi un recuit de recristallisation, par la mesure de la texture cristalline au moyen de rayons Röntgen. </P><P>Les bandes sont irradiées, les rayons diffractés par les réseaux cristallins sont détectés, les quanta détectés sont convertis en impulsions de tension discriminées dans un analyseur selon leur amplitude. Les maxima de la distribution de fréquence sont rapportés à des reflets de diffraction déterminés dont l'intensité est mesurée pour une valeur constante des angles de latitude et d'azimut.</P>
申请公布号 FR2423774(A1) 申请公布日期 1979.11.16
申请号 FR19790010102 申请日期 1979.04.20
申请人 HOESCH WERKE AG 发明人 WOLFGANG BOTTCHER, HERMANN-JOSEF KOPINECK ET ALBRECHT MAURER;KOPINECK HERMANN-JOSEF;MAURER ALBRECHT
分类号 G01N23/207;G01L1/00;G01N23/20;(IPC1-7):G01N23/20;G01N33/20 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
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