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发明名称
METHOD OF MEASURING THE THICKNESS OF SEMICONTOR MATERIAL LAYERS
摘要
申请公布号
SU697801(A1)
申请公布日期
1979.11.15
申请号
SU19782573981
申请日期
1978.01.02
申请人
KUSTOV VASILIJ G,SU
发明人
KUSTOV VASILIJ G,SU
分类号
G01B7/06;(IPC1-7):G01B7/06
主分类号
G01B7/06
代理机构
代理人
主权项
地址
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