发明名称 IC TEST PROBE
摘要
申请公布号 JPS54145482(A) 申请公布日期 1979.11.13
申请号 JP19790009614 申请日期 1979.01.30
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INC 发明人 RII AARU RIIDO;CHIYAARUZU AARU RATSUTORIFU
分类号 G01R31/26;G01L1/16;G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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