发明名称 |
CRYSTALLIZABILITY ASSESSING METHOD OF SEMICONDUCTOR CRYSTAL |
摘要 |
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申请公布号 |
JPS54145594(A) |
申请公布日期 |
1979.11.13 |
申请号 |
JP19780053534 |
申请日期 |
1978.05.04 |
申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
ISHII TAKASHI;NISHITANI KAZUO;SAWANO HIROSHI |
分类号 |
G01N27/26;G01N33/00;G01N33/20 |
主分类号 |
G01N27/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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