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发明名称 Method and Apparatus for Measuring the Thicknesses of Film Layers Using Infrared Radiation
摘要
申请公布号 GB2016678(A) 申请公布日期 1979.09.26
申请号 GB19790007539 申请日期 1979.03.02
申请人 ASAHI-DOW LTD 发明人
分类号 G01B11/06;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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