发明名称 SUPPORT D'ECHANTILLONS DE CONTROLE SOUMIS A IRRADIATION
摘要 <P>Support d'échantillons de contrôle soumis à irradiation. Les échantillons de matériau sont contenus dans des capsules scellées qui sont empilées bout à bout à l'intérieur d'un tube-support 40. Chaque capsule est prévue avec des garnitures d'extrémité façonnées qui s'engrènent avec l'extrémité adjacente d'une capsule aboutante, avec le bouchon d'extrémité du tube-support ou avec le dispositif de fermeture du tube-support. Les capsules sont retenues par une pression axiale communiquée par le dispositif de fermeture. Le tube-support est supporté orthotropiquement à l'intérieur du réacteur. </P><P>Applicable notamment au contrôle du matériau de construction d'un coeur de réacteur nucléaire.</P>
申请公布号 FR2417827(A1) 申请公布日期 1979.09.14
申请号 FR19790003876 申请日期 1979.02.15
申请人 BABCOCK ET WILCOX CY 发明人
分类号 G21K5/08;G21C1/30;G21C23/00;(IPC1-7):G21C17/00;F16J13/02 主分类号 G21K5/08
代理机构 代理人
主权项
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