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发明名称 INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPS54111286(A) 申请公布日期 1979.08.31
申请号 JP19780018886 申请日期 1978.02.20
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 HONMA MICHIO
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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