发明名称 APPAREIL DE LITHOGRAPHIE A RAYONS X ET PROCEDE D'UTILISATION
摘要 a. Appareil de lithographie à rayons X et procédé d'utilisation. b. Il comprend une anti-cathode en tungstène, l'appareil fonctionnant de façon à produire la ligne M du tungstène, cette ligne se situant à une longueur d'onde qui sera absorbée par le support utilisé normalement pour lithographie. Pour développer le support, qui a été conçu initialement pour être utilisé dans la lithographie par faisceau d'électrons, on développe dans un premier temps avec une haute concentration et dans un deuxième temps avec une concentration la plus faible permettant d'obtenir un développement complet c. Applications courantes.
申请公布号 FR2414791(A1) 申请公布日期 1979.08.10
申请号 FR19790000521 申请日期 1979.01.10
申请人 PERKIN ELMER CORP 发明人 WILLIAM DEREK BUCKLEY
分类号 G03B42/02;G03C5/08;G03F7/20;H01J35/02;H01L21/027;H01L21/30;H05G1/00;(IPC1-7):01J35/00;05G1/08 主分类号 G03B42/02
代理机构 代理人
主权项
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