SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,申请号JP19780004039-传众专利搜索

发明名称	SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	JPS5497358(A)	申请公布日期	1979.08.01
申请号	JP19780004039	申请日期	1978.01.18
申请人	NIPPON ELECTRON OPTICS LAB	发明人	HIRATA YOSHIHIRO
分类号	H01J37/141;H01J37/10;H01J37/21;H01J37/28	主分类号	H01J37/141
代理机构		代理人
主权项
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