发明名称 TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 JPS5476024(A) 申请公布日期 1979.06.18
申请号 JP19770144127 申请日期 1977.11.30
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 MATSUOKA OSAMU
分类号 G11C11/413;G01R31/26;G01R31/28;G06F11/00;G06F11/22;G11C11/34;G11C29/00;G11C29/10 主分类号 G11C11/413
代理机构 代理人
主权项
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