| 发明名称 |
IMPROVEMENTS IN OR RELATING TO TEST LEADS FOR USE WITH MULTIMETERS IN TESTING THE CURRENT AMPLIFICATION FACTOR OF TRANSISTORS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK35879(A) |
申请公布日期 |
1979.06.15 |
| 申请号 |
HK19790000358 |
申请日期 |
1979.06.07 |
| 申请人 |
SANWA INSTRUMENT WORKS LTD |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R1/06;G01R1/067;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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