| 发明名称 |
METHOD OF AND APPARATUS FOR MEASURING THE FLATNESS OF A SURFACE USING LIGTH INTERFERENCE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB1546881(A) |
申请公布日期 |
1979.05.31 |
| 申请号 |
GB19760001081 |
申请日期 |
1976.01.12 |
| 申请人 |
KONISHIROKU PHOTO INDUSTRY CO LTD |
发明人 |
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| 分类号 |
G01B9/02;G01B11/06;G01B11/30;(IPC1-7):C01B9/02 |
主分类号 |
G01B9/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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