发明名称 |
Integrated semiconductor circuit for a small-sized structural element, and method for its production. |
摘要 |
Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiteranordnung für eine Bauelementstrucktur mit kleinem seitlichen Basis-Emitterabstand sowie entsprechend aufgebaute Transistorstrucktur. In einem Silicium-Halbleiterkörper werden gegeneinander durch dielektrische Gebiete (22) isolierte Halbleiterbereiche abgegrenzt, in denen durch entsprechende Dotierungsschritte Transistorstruckturen mit Basis-, Emitterund Kollektoranschlußgebieten (26, 36, 38) vorgesehen werden. Ein kleiner Basis-Emitterabstand wird dadurch erzielt, daß als Kontaktbereich (40) zum Basisgebiet (26) ein den Emitterkontakt (44) umschließendes dotiertes polykristallines Siliciumgebiet auf der Halbleiteroberfläche vorgesehen wird. Eine weitere Flächenreduzierung ergibt sich daraus, daß das Basisgebiet (26) seitlich unmittelbar von dielektrischen Isolationsgebieten (22, 20) begrenzt wird. |
申请公布号 |
EP0001550(A1) |
申请公布日期 |
1979.05.02 |
申请号 |
EP19780100830 |
申请日期 |
1978.09.06 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
ANANTHA, NARASIPUR GUNDAPPA;BHATIA, HARSARAN SINGH;WALSH, JAMES LEO |
分类号 |
H01L29/73;H01L21/033;H01L21/225;H01L21/331;H01L21/762;H01L23/532;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423;(IPC1-7):01L21/70;01L23/48 |
主分类号 |
H01L29/73 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|