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发明名称 TEST PIECE SELECTION UNIT FOR ELECTRONIC MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPS5453957(A) 申请公布日期 1979.04.27
申请号 JP19770119948 申请日期 1977.10.07
申请人 HITACHI LTD 发明人 UNNO YOSHIMASA;KUBOZOE MORIKI
分类号 H01J37/20 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
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