INTEGRATED MICROCIRCUIT DYNAMIC PARAMETER CHECKING DEVICE,申请号SU19762395920-传众专利搜索

发明名称	INTEGRATED MICROCIRCUIT DYNAMIC PARAMETER CHECKING DEVICE
摘要
申请公布号	SU647695(A1)	申请公布日期	1979.02.15
申请号	SU19762395920	申请日期	1976.08.09
申请人	RATSUN MIRON O,SU;KLIMOV ALEKSANDR V,SU	发明人	RATSUN MIRON O,SU;KLIMOV ALEKSANDR V,SU
分类号	G01R31/303;G01R31/28;(IPC1-7):G06F15/46	主分类号	G01R31/303
代理机构		代理人
主权项
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