发射抑制传感器

摘要

本发明涉及一种用来测量一种分析物的浓度的检测仪器和方法。该检测仪器包括一个敏感元件，此敏感元件包括至少一种第一发射指示物，该发射指示物的特征在于一个双分子抑制率常数k_q，一个或多个大于最低寿命τ_OL的荧光寿命τ_o，并且当在有抑制剂的情况下暴露于一个激励信号时，能发射一些与分析物浓度有关的信号。一个耦合于该敏感元件的激励系统在一个或多个角频率ω下提供一个振幅调制的激励信号。一个耦合于该敏感元件的探测器探测诸与分析物浓度有关的信号并提供一些探测信号。一个处理器耦合于该探测器，该处理器最好包括用来储存描绘分析物浓度和该与浓度有关的参数之间的校准关系的信息的存储器。该处理器单变地处理诸探测信号并提供代表分析物浓度的一些输出信号。该敏感元件和/或激励系统配置成使该仪器对于工作范围之内的所有分析物浓度来说以及对于大于τ_OL的所有寿命τ_O来说，均能足够地工作在条件[(k_q[Q])²+ω²]τ_o²＞＞1+2k_qτ_o[Q]之内，以致该与浓度有关的参数和分析物浓度之间的关系的斜率与τ_o变化性和/或多重性无关。当按此方式配置时，该校准斜率与τ_o变化性和/或多重性无关。因而通过响应于敏感元件对具有已知浓度的一种校准分析物的暴露，修改描绘该关系的截距而不是斜率的储存校准信息，能重新校准该传感器。

主权项

1.一种用来检测在介质中的一种分析物浓度的方法，该方法包括以下步骤：把一个敏感元件暴露于所述介质，所述敏感元件包括一种配置成暴露于一种抑制剂的发射指示剂，所述抑制剂包含所述分析物或一种按已知关系与所述分析物相关联的物质，而且其中所述发射指示剂具有一个针对所述抑制剂的双分子抑制率常数kq和一个或多个大于最低寿命τOL的荧光寿命τO；把所述敏感元件暴露于一个角频率ω下的激励信号，借此使所述敏感元件发射一个与分析物浓度有关的信号或一些具有一个与分析物浓度有关的参数的信号，该参数作为分析浓度的函数而变化；探测所述(诸)发射信号并提供(诸)探测信号；单变地处理至少一个所述诸探测信号以得出该与浓度有关的参数，借此测定在所述介质中所述分析物的浓度，其中所述敏感元件和/或所述激励信号这样配置，以便提供一种工作条件，其中对于感兴趣的工作范围之内的所有分析物浓度来说以及对于大于τOL的所有寿命τo来说，量{[(kq[Q])2＋ω2]τo2}均大于4倍的量{1＋2kqτo [Q]}，这里[Q]是所述敏感元件中所述抑制剂的浓度。