| 发明名称 |
DETECTING METHOD OF DEPTH AND PROFILE OF SINTERED LAYER OF SINTERING RAW MATERIAL LAYER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS53135387(A) |
申请公布日期 |
1978.11.25 |
| 申请号 |
JP19770049342 |
申请日期 |
1977.04.28 |
| 申请人 |
NIPPON STEEL CORP |
发明人 |
FUJII YOSHIHIRO;KAMIKAWA SEITA;TAMURA KENJI;HAYASHI YOUICHI |
| 分类号 |
C22B1/20;G01N13/00;G01N27/72 |
主分类号 |
C22B1/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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