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发明名称 TEST MODULE FOR INTEGRATED MICROCIRCUIT PARAMETER MEASURING ARRANGEMENT
摘要
申请公布号 SU632967(A2) 申请公布日期 1978.11.15
申请号 SU19772480157 申请日期 1977.04.28
申请人 DUBOVIS VLADIMIR MOISEEVICH,SU;ANTONOV YURIJ IVANOVICH,SU;CHERNYSHEV YURIJ NIKOLAEVICH,SU 发明人 DUBOVIS VLADIMIR MOISEEVICH,SU;ANTONOV YURIJ IVANOVICH,SU;CHERNYSHEV YURIJ NIKOLAEVICH,SU
分类号 G01R31/319;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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