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发明名称 TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICES OF PNPN CONSTRUCTION
摘要
申请公布号 JPS53126878(A) 申请公布日期 1978.11.06
申请号 JP19770041365 申请日期 1977.04.13
申请人 HITACHI LTD 发明人 SHIMURA TATSUO;HORIUCHI JIYUNICHIROU;OKUHARA SHINJI
分类号 G01R31/26;H01L29/74 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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