| 摘要 |
Zgłoszenie dotyczy sposobu pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układu do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej, w kolejnych etapach jej wytwarzania, przeznaczonej do procesu precyzyjnego odlewania metodą traconego tworzywa. W sposobie tym wykorzystuje się metody optycznego, przestrzennego skanowania oraz urządzenie komputerowe do przetwarzania sygnałów mierzonych. Sposób charakteryzuje się tym, że wytworzony woskowy zestaw modelowy skanuje się za pomocą skanera optycznego (1). Następnie dane pomiarowe dostarcza się do modułu przetwarzania danych pomiarowych (5), gdzie są przetworzone na obraz trójwymiarowy. Dane przesyła się do modułu porównywania danych i wnioskowania (6), a na woskowy zestaw modelowy nakłada się n warstw ceramiki. Po każdym z n procesów nakładania ceramiki, zestaw jest skanowany za pomocą skanera optycznego (1), a dane pomiarowe dostarcza się do modułu przetwarzania danych pomiarowych (5), gdzie są przetworzone na obraz trójwymiarowy. Następnie dane te są przesyłane do modułu porównywania danych i wnioskowania (6), gdzie porównuje się obrazy zestawu modelowego i wytworzonej na nim ceramicznej formy odlewniczej poprzez ich nałożenie, z uwzględnieniem sposobu bazowania z wykorzystaniem obszarów wspólnych tj. misy ceramicznej z naniesionym znacznikiem. Rysy wyznaczają różnicę między obrazami, stanowiąc grubość ścianki wielowarstwowej ceramicznej formy odlewniczej, gdzie następnie uzyskany rozkład grubości ścianki porównuje się z wzorcowym rozkładem grubości. |
