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发明名称
INSPECTION SYSTEM FOR MEMORY UNIT
摘要
PURPOSE:To correct the error regarding defective bits e or more as one bit error and to prevent non-detection of error, by detecting the address signal given to the semiconductor memory ICMEM integrated or defective driving signal.
申请公布号
JPS53109438(A)
申请公布日期
1978.09.25
申请号
JP19770023825
申请日期
1977.03.07
申请人
HITACHI LTD
发明人
KAWAMURA HIROYUKI;YAMAGA MITSUHIRO
分类号
G06F12/16;G11C29/00
主分类号
G06F12/16
代理机构
代理人
主权项
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