发明名称 INSPECTION SYSTEM FOR MEMORY UNIT
摘要 PURPOSE:To correct the error regarding defective bits e or more as one bit error and to prevent non-detection of error, by detecting the address signal given to the semiconductor memory ICMEM integrated or defective driving signal.
申请公布号 JPS53109438(A) 申请公布日期 1978.09.25
申请号 JP19770023825 申请日期 1977.03.07
申请人 HITACHI LTD 发明人 KAWAMURA HIROYUKI;YAMAGA MITSUHIRO
分类号 G06F12/16;G11C29/00 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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