发明名称 AUTOMATIC CALL TEST EQUIPMENT
摘要 PURPOSE:To increase the test accuracy as well as to enhance the reliability for the abnormality detection, by providing a test result check circuit to the electronic exchange.
申请公布号 JPS53100711(A) 申请公布日期 1978.09.02
申请号 JP19770015699 申请日期 1977.02.15
申请人 NIPPON ELECTRIC CO;NIPPON DENKI KOUJI KK 发明人 TAKAGI HIDEJI;NAKAI NOBUO;TAKAHASHI TOSHIO
分类号 H04M3/22;H04M3/24;H04Q1/20;H04Q3/545 主分类号 H04M3/22
代理机构 代理人
主权项
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