| 发明名称 |
PROFILING METHOD OF DELAY PROFILING DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5391034(A) |
申请公布日期 |
1978.08.10 |
| 申请号 |
JP19770005833 |
申请日期 |
1977.01.24 |
| 申请人 |
HITACHI SEIKO KK |
发明人 |
YOSHIDA TAKASHI;HAMANO ARATA;ARAYA TAKESHI;UDAGAWA TSUGIO |
| 分类号 |
B23Q35/04;B23K9/127;B23K37/00;B23Q35/00 |
主分类号 |
B23Q35/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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