Method of determining crystal grain orientation by comparing sputtered patterns,申请号US19650459840-传众专利搜索

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发明名称	Method of determining crystal grain orientation by comparing sputtered patterns
摘要
申请公布号	US3395090(A)	申请公布日期	1968.07.30
申请号	US19650459840	申请日期	1965.05.28
申请人	PHYSICS TECHNOLOGY LABORATORIES, INC.	发明人	MCCKEL BENJAMIN B.
分类号		主分类号
代理机构		代理人
主权项
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