| 发明名称 |
TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5382237(A) |
申请公布日期 |
1978.07.20 |
| 申请号 |
JP19760157570 |
申请日期 |
1976.12.28 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGRAPH & TELEPHONE |
发明人 |
NARUMI NAOAKI;HAMAGUCHI SHIGETAKE;ISHIKAWA KOUJI;OOGUCHI OSAMU |
| 分类号 |
G11C11/413;G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3183;G06F11/00;G06F11/22;G11C11/34;G11C29/10 |
主分类号 |
G11C11/413 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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