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经营范围
发明名称
RELIABILITY TESTING METHOD FOR SIMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
JPS5379467(A)
申请公布日期
1978.07.13
申请号
JP19760155790
申请日期
1976.12.24
申请人
FUJI ELECTRIC CO LTD
发明人
SAKAI HIROSHI;ARIMURA KENICHI;KOBAYASHI TSUNEHIRO
分类号
G01R31/26;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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