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发明名称 METHOD OF MEASURING PARAMETERS OF RC- AND LC-CIRCUITS
摘要
申请公布号 SU613267(A1) 申请公布日期 1978.06.30
申请号 SU19752121285 申请日期 1975.04.02
申请人 PENZENSKIJ POLT INSTITUT 发明人 MARTYASHIN ALEKSANDR ,SU;MOROZOV ANDREJ E,SU;SVISTUNOV BORIS L,SU;SHLYANDIN VIKTOR M,SU
分类号 G01R27/26;G01R27/00;(IPC1-7):G01R27/26 主分类号 G01R27/26
代理机构 代理人
主权项
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